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电子零件和半导体

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随着汽车的电动化和移动终端的精密化，其上安装的零部件、半导体芯片数量一直在增加，因此需要进一步提高生产线的生产效率。

HIOKI日置提供了可以高速、高精度地测量各种被测物，同时还可以节省生产线空间的仪器设备。

满足日益小型化的电子零件和半导体测量要求

HIOKI的解决方案帮助推动汽车、电子等制造业的智能化发展

满足日益小型化的电子零件和半导体测量要求

全面的电子零件和半导体解决方案

应用案例

PIN二极管高频正向电阻的测量

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漆包线的介电损耗角正切(tan δ)试验

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从电容等无源元件的等效电路分析结果来判断合格与否K0046-2022C02

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符合JIS标准·IEC标准的固体平面材料的电阻测量K0029-2022C03

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压电元件的高速特性检查S0021-2022C02

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样本资料

半导体行业样本
电压偏置测试系统CN010（科技样本）
多通道测试方案（科技样本）
LCR测试仪系列
电子元器件应用案例样本

半导体行业样本

半导体行业应用方案

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电压偏置测试系统CN010（科技样本）

电压偏置测试系统CN010（科技样本）

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多通道测试方案（科技样本）

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3 / 5

LCR测试仪系列

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电子元器件应用案例样本

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