电子零件和半导体行业解决方案

Electronics & Semiconductor Solutions
研究与开发
研究与开发

包装材料表面电阻率测试

使用LCR测试仪和直流电源的半导体的DC偏置测试

符合AEC-Q200标准的电子零件的温度评估

电绝缘材料的相对介电常数/介电损耗角正切温度特性测试

光电二极管的I-V特性评估

包装材料表面电阻率测试

01
#包装材料#表面电阻#保鲜膜
某外资食品包装企业客户,是一家专业生产食品保鲜膜的公司,主要从事食品保鲜膜的生产,月产量超过450吨。目前在上海成立了研发中心,专注于新技术以及新材料的研发。
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包装材料表面电阻率测试

使用LCR测试仪和直流电源的半导体的DC偏置测试

02
#电感器 #LCR测试仪 #直流偏置测试
迄今为止,在 DC 偏置测试中,需要在外部偏置电路中构成保护用电容器和线圈。LCR 测试仪 IM3536 通过使用 Voltech 公司的 DC 偏置电源, 无需构成保护用电容器和线圈,即可轻松进行电感器的直流偏置测试 ( 直流叠加测试 )。
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使用LCR测试仪和直流电源的半导体的DC偏置测试

符合AEC-Q200标准的电子零件的温度评估

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#汽车用电子零件
随着搭载代表自动驾驶的ADAS和HMI等,以及车载信息娱乐的充实,使用在汽车上的电子零件的数量不断增加。使用在汽车上的电子零件 需要很高的可靠性。因此,对于汽车用电子零件的可靠性测试有AEC-Q200标准的规定。作为检测机构的AEC(Automotive Electronic Council)是由车载电气零部件制造商和电子零件制造商,半导体制造商共同参与策划。主要的测试是温度测试,确认高温环境下零件特性 的变化,进行改变温度的温度周期测试。确认测试前后或是试验中电子零件的特性变化。
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符合AEC-Q200标准的电子零件的温度评估

电绝缘材料的相对介电常数/介电损耗角正切温度特性测试

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#特性测试
通过静电容量测试方法测量相对介电常数,介电损耗角正切。使用LCR测试仪IM3536搭配测量用电极,可实现从低温到高温的tanδ测量。
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电绝缘材料的相对介电常数/介电损耗角正切温度特性测试

光电二极管的I-V特性评估

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高阻计SM7110是一款配备直流电源和微小电流表的测量仪器,可控制0.1V至1000V的宽范围直流电压和最小量程为20pA(分辨率0.1fA)的微小电流。可在改变直流电压的同时同步测量微小电流,搭配使用HIOKI日置官网上发布的免费软件,即可轻松地获得测量结果的图表。
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光电二极管的I-V特性评估
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