日置展位号：W5馆565

时间：2026.7.1~2026.7.3

地点：上海·新国际博览中心（龙阳路2345号）

亮相方案

1.AI数据中心测量方案

2.宽域高频电感全维度检测

3.高容MLCC电容和电阻检测

核心展品

阻抗分析仪 IM7587

实现 100kHz~3GHz 宽频阻抗稳定精准测量，0.5ms 同步完成扫频与 LCR 测试，兼顾高速与高稳定性，有效缩短工时、提升产能。

阻抗分析仪 IM3570+多路转换器 ZC3001

1台仪器即可实现LCR、DCR、扫描测量等的连续测试与高速检查，LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz），基本精度 ±0.08%，搭载ZC3001可支持10通道测试，兼具宽频带特性与优异的通道间一致性；与LCR多路测试软件CN040搭配使用，可满足电子元器件、传感器等产品的研发测试需求。

高阻计 SM7120

支持多样化测量模式，最高耐压2000V，最快6.4ms的高速测量，搭载 HIOKI 自研悬浮式电路，抗干扰能力达前代 300 倍，可不受环境干扰稳定测试，适配产线高速测量需求。

电池测试仪 BT3554-50

专为数据中心 UPS 与铅蓄电池打造，以不停机检测、极速测量、智能指引、降噪抗扰、全链路数据管理，让每一节电池状态清晰可控。