某高新技术企业客户，聚焦于半导体器件和电驱系统的研发。运营总部位于上海市，目前已在国内及海外多处设立研发生产中心。已与目前国内多家主流整车厂及新能源客户达成长期合作。

IM系列LCR测试仪/阻抗分析仪

测试频率范围覆盖1mHz~3GHz，结合丰富的治具选件可满足多样化的测试需求。中低频段（约5MHz以下）的IM35XX系列采用平衡电桥法，基本精度Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）；
中高频段（约5MHz以上）的阻抗分析仪IM758X系列采用RF-IV测试方法，基本精度Z:±0.65 % rdg. θ: ±0.38°。

使用IM系列LCR/阻抗分析仪搭配相应的治具进行电感的Ls参数测试，并且可选择带引脚元器件专用测量治具，有效提升测试精度。从元器件的研发端到各类检测机构中都有广泛的应用

接线示例

测试结果

使用基于电桥法的LCR测试仪IM35XX系列，或基于RF-IV法阻抗分析仪IM758X系列进行定频测试、绘制扫频曲线和等效回路分析等功能。

电抗器的静态测试和动态测试

静态测试指的是电抗器在未工作状态下的测试，主要于研发阶段中进行。通过LCR或阻抗分析仪测试电抗器的频率特性和等效回路。这种方法相对简单，易于操作，且不会对电抗器产生额外的能耗和热

量。其测试结果也能够验证电抗器的基本性能。动态测试则在电抗器工作状态下进行，在不同负载和频率下测试电抗器感量变化。由于功率因数低，且相位角接近90°，加之开关器件的高频化发展趋势，往往需要用到能实现高精度测试的设备。这种测试方法能够更真实地反映电抗器在实际运行中的性能，对于可靠性的评估具有重要意义。通过动态测试，可以更好地掌握电抗器在不同负载和频率下的感量变化，确保其长期稳定性和可靠性。

评估电抗器的电感损耗的目的是？

如今高频电感的应用非常广泛，例如EV和HEV中，从电池到变频器的升压DC/DC逆变器、电池充电电路中的AC/AC逆变器等。为了实现系统整体的高效率化，需要对各个回路中的效率进行评估和改善。在回路中，造成损耗占比最高的部件一般而言就是电感，这些电感大多被使用在高频开关上。开关频率方面，以往如IGBT等开关器件的频率往往在10kHz左右，进年来随着SiC和GaN等元件的实用化，超过100kHz的开关频率也变成了可能。

以下是电感损耗静态测量的原理和方法：

电感总损耗 = 铜损（电感绕组损耗）+ 铁损（磁芯损耗）

铜损（Copper loss）=IRMS2 * RDC（mΩ）/1000

铁损（Iron loss）一般在电感供应商的出厂参数中提供（与电感值有关）