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● 测量频率:1MHz~600MHz
● 测量时间:最快0.5ms(模拟测量时间)
● 基本精度:±0.65% rdg.
● 测量方式:RF I-V法
● 紧凑主机仅机架一半大小,测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能(DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定)
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量
能够以测量结果为基础推测5种等效电路模式的常数。 而且,可以通过模拟功能,使用推测结果或者任意的常数来显示频率特性的理想值。 此外,使用比较器功能,还能够确定测量结果是否在判定区域内。
IM7580系列5种机型的测量频率覆盖了1MHz〜3GHz。
和用于6种尺寸SMD的测试治具IM9201组合使用,能够简单准确的测量样品。
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “区域判定功能”是设置上限值和下限值的范围,并以IN/NG来显示判定结果。
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “峰值判定功能”是以上限值、下限值、左限制、右限值来设置范围,并以IN/NG来显示测量的峰值是否在判定区域内。
分析模式的比较器功能中,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 “SPOT判定功能”是选择任意的扫描点和参数,最多进行16点的判定。
使用比较器功能,可以确定测量值是否进入了任意设置的判定区域内。 适用于判定样品是否合格的功能。
使用接触检查功能,能够检查样品和测量端口的接触状态,并确认接触不良情况和连接状态。
测试头的连接线连接阻抗分析仪。
稍微弯曲扭力扳手的手柄后拧紧螺母(0.56 N・m)。
请注意不要拧过头。
仅需输入数值即可轻松计算精度。
阻抗分析仪精度计算软件请点击
测量模式 | LCR(LCR测量),分析(扫频测量),连续测量 |
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测量参数 | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q |
精度保证范围 | 100 mΩ~5 kΩ |
显示范围 | Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ) Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99) θ: ± (0.000°~999.999°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF) D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS) G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %) |
基本精度 | Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38° |
测量频率 | 1 MHz~600 MHz (设置分辨率100kHz) |
测量信号电平 | 功率 (dbm)模式: -40.0 dBm~ +1.0 dBm 电压 (V)模式: 4 mV~502 mVrms 电流 ( I )模式: 0.09 mA~20.02 mArms |
输出阻抗 | 50 Ω (10 MHz时) |
显示 | 彩色TFT8.4英寸、触屏 |
测量时间 | 最快0.5ms(FAST、模拟测量时间、代表值) |
功能 | 接触检查、比较器、BIN判定(分类功能)、面板读取·保存、存储功能、等效电路分析、相关补偿 |
接口 | EXT I/O (处理器), USB通讯, U盘, LAN RS-232C (选件), GP-IB (选件) |
电源 | AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max |
体积和重量 | 主机: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg 测试头: 90W × 64H × 24D mm, 300 g |
附件 | 电源线 ×1, 测试头 ×1, 连接线 ×1, 使用说明书 ×1, CD-R (通讯使用说明书) ×1 |
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阻抗分析仪IM7583版本升级 |
版本升级应由熟悉IM7583的功能和操作且有资格的技术人员来操作。如果不确定操作流程,请联系当地HIOKI中国分支机构寻求帮助。 |
1.IM7583软件 | |
最新软件版本如下所示。如果您还在使用旧版本,强烈建议您升级成最新版本。 | |
主机版本: V1.25 | |
2.如何检查版本编号 | |
硬件的版本编号可以通过选择系统屏幕上的“INFO”选项来检查。 | |
如IM7583版本为V1.25,则无需升级仪器。 | |