要点

・ 设备接地电位升高时，会引起设备的运行错误或产生测量误差。

・ 金属外壳与接地线之间的低电阻可有效抑制设备接地电位升高。

详细说明

・ RM3548-50 采用四端子测量法，不受测试线的电阻和接触电阻的影响，高精度地测量微小电阻。

・ 在大型设备中，作为电位基准的金属外壳会流通强电流。若金属外壳电阻较大，电流产生的电位差会引起设备的运行错

误或导致测量误差。

・ 金属外壳通常需接地，通过减小其与接地端之间的接触电阻，可确保电流通过时也不会产生较大的电位差。因为接地电

位保持稳定，所以设备及系统运行也得以保障。

・ 使用电阻计测量金属外壳与接地端之间的电阻。此时因设备尺寸可能需要延长测试线，这样会增大外部干扰的影响，需

要特别注意。

※ 由于延长测试线会增大外部干扰的影响，因此需通过增加测量时间或启用平均值功能来降低此影响。

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