RM3542C

RM3542C是专为片式电阻器/片式铁氧体磁珠的量产检测自动化设备的直流电阻计。通过 ΔR对比工序前后的变化率、BIN功能（最多7个等级）即时判定产品合格与否及等级、跳线电阻测量支持功能加速低电阻分选，实现更严格的检测，提高检测效率。此外，通过低应力测量与实时监控接触状态保障检测可靠性，以及优化量程结构与浮式设计，实现量产检测环境下的稳定测量。

针对跳线电阻（零欧姆电阻）等100 mΩ以下元件的检测，可跳过耗时的高精度量程。在典型测试条件下，测量时间缩短约76%。

示例：检查100mΩ跳线电阻（零欧姆电阻）

比较器设置：上限值100 mΩ、下限值50 mΩ

测量仪设置：测量速度FAST、延迟（从施加时间开始到测量的时间）：0 ms

根据多项判定基准，将测量结果划分为0～6等级。实现合格与否判定的同时，简化了量产检测必需的分级流程。

由两台测量仪的测量结果，自动计算并比较电阻值变化率（ΔR），再根据阈值判定产品合格与否。

无需借助外部运算，即可在产线内完成工序间对比。

灵活的累积时间设置与量程优化，兼顾生产效率与高精度稳定测量。

各量程可独立设置累积时间，支持从FAST 0.9 ms（最快速度）到SLOW高精度测量。采用3Ω/300Ω等中间量程，改善S/N并降低测量偏差。

此外，采用浮式设计，即使在生产线这类强干扰环境中，也能实现稳定测量。

可将作为测量应力主要诱因的施加电压限制在5V以下。在H/L端子侧交替施加接触改善电流，修整电极表面的同时，抑制冲击电流峰值。

兼顾0201及特性易发生变化的铁氧体磁珠的检测需求。

【操作条件】LOW POWER:ON或施加电压限制功能：ON状态下，接触改善功能设为脉冲。

通过测量前的接触改善（17/25/35/50 mA）稳定接触状态。检测过程中，由接触监控功能实时监控状态，降低因接触不良导致的误判及产线停机风险。

通过预设功能可一键调用测量条件，减少换产失误，保障产线稳定启动。搭载工位错位预防功能，可避免两台校正设备在校正或维护后的设备连接错误。此外，设备支持90天精度保障*，能维持更高测量精度，满足超窄公差元件的检测需求。换产再现性、产线稳定性、严苛判定力三者兼得。

*仅限RM3542C-3