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飞针测试机

FA1116 已停产

Max.100点/秒的高速测试,针痕深度减半

● 电容法测量,高速光板测试机
● Max.100点/秒的高速测试
● 镀金基板及微细线路基板的测试时间提升30%
● 搭配新型探针CP1702-01以及最优软着陆控制,实现微细线路的高速测试
● 通过5aF的高分辨率的电容法测量,可检出单独线路欠缺的微细不良
● 从一般的光板到FPC、BGA、CSP、MCM等微细、高精密基板都可检测
● 最小焊盘尺寸15um
● 除电容法测量外,标准配备电阻、电感、二极管以及电压测量。另外通过MLCC测量功能,在JIS规格要求下也可实现电容测量。
● 通过丰富的测量功能及选件单元的结合,减少待测基板在现场的停放时间

  • 概要

  • 规格

  • 相关下载

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    针痕深度减半 FA1116介绍视频

    专用电容法测量的光板测试机FA1116与以前同款飞针测试机相比,在相同测试速度条件下实现了测试针痕深度减半。
    测试针痕变得更小并不仅仅是此款设备的唯一优点;提高设备的移动速度设定,也可实现测量时间的缩减。

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    电容法测量的优点

    电容测量法是飞针测试机缩短测量时间的不可或缺的方法。中间也可吸附的最大的优点就是「不考虑形状、层数即可测试」不通过测试验证为良品的话,辛苦制成的产品是无法出货的。 「可以测试」,这个对测试机来说是最重要的课题。 测试时间由测试点数与针痕考量综合后设定的速度决定。 单面、软板、封装,CSP等无需在意形状、厚度即可开始测试。

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    单面吸附式电容测量法的优点(非导通测试)

    可实现「1:其他网络」间的非导通测试是单面测试机的特点。
    双面测试的飞针测试机上也可能会出现因基准的GND层设定而只能使用电容法无法测量的测试点。因此电阻测量的测试网络会增加,导致双面板的测试时间对比微细的多层板还要长的现象频繁地发生。
    单面电容测量的话,因为是吸附在同一基准电极上,即使是线路板间的短路,测试时间稍微延长一点的话就可以检测出短路不良。

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    稳定的针痕控制及高速测试

    只要进行电气测试,在线路板上就无可避免地会产生针痕。
    虽是既定事实,但如果测试对象统一的话,测试机也可简单地限定某些条件。 相对而言,在难以把握接触面状态的双面测试中,探针的接触构造也变得复杂。 也就是说,使用吸附式测试机时,因为线路板的测试面是固定的,可迅速设定「尽量减少测试时间」的各种条件(速度、下压量等)。机械构造良好,操作简单;即使不使用接触检查功能和测试面高度补偿,最终也可实现测试时间的缩短。

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    减轻针痕的新型探针CP1072-01 (选件)

    通过新设计的减轻针痕的探针与精密的软着陆控制的结合,在微细线路测试时的速度设定可以更接近最高速进行设定。(FA1116专用探针)
    镭射基板厚度补偿 FA1950-06 (选件),在自动测试开始时测量测试面的高度。以此减轻因基板翘曲以及厚度不均对针痕造成的影响。同时,还可防止因基板固定失误造成的探针损坏。

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    探针配套

    配合测试基板,可从各种组合中进行配套选择。
    如对探针及针痕存在疑问事项,可联系敝司营业担当。

  • 用电容测量法,能保证绝缘电阻值吗?

    因为很难换算成正确的数值,答案是「不能!」。
    飞针测试机电容测量法的绝缘测试相对于绝缘电阻测试,最大的优点是实现了测试时间的大幅缩短。
    因为通过测试电容值,已经保证了基板的导通·非导通,因此不给客户造成误解也是非常重要的。
    当然,因为无法保证电阻值,所以必须使用可靠的有测试电容(F)数值保证(可追溯)的测试机。

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    FA1116的外观

    紧凑的外观和宽大的盖门

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    Gerber编辑软件 FEB-LINE UA1781

    程序制作软件 UA1781是HIOKI独有的Gerber编辑软件
    是把测试程序制作时必要的测试技术,与现有编辑软件中费事的通孔数据、涂布数据的网络连接处理等独有功能搭配的一款FLY-LINE的升级软件。

    FEB-LINE 测试数据制作软件 UA1781

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    不良显示搜索FAIL VIEWER UA1782
  • 从电容测量的结果中,进行不良网络显示以及不良部位搜索的确认软件。

    FAIL VIEWER UA1782

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    「连接的力量」 ATE产品介绍

    HIOKI基板测试设备的「连接的力量」是指通过电气测试与未来紧密相连的奋进之力。
    通过测试设备与各位顾客一起为幸福生活持续提供力所能及的支援。
    同时,作为电气测量命脉之所在的「测试能力」,与基板间连接之力的加强和不停地追求探索,也是HIOKI基板测试设备的目标及应走之道路。

■ 概略规格

手臂数量2
测试步数最多40,000步/piece
300,000步/sheet
测试范围DC测量功能
电阻:400 μΩ〜40 MΩ
电容:4 μF〜400 mF
二极管、三极管 (VF):0〜25 V
齐纳二极管 (VZ):0~25 V
短路:400 mΩ~40 kΩ
开路:4 Ω~4 MΩ
电压:0〜25 V
 
AC测量功能
电阻:100 Ω〜100 MΩ
电容:10 fF〜10 μF
电感:10 μH〜100 mH
测试时间Max.100 points/s
(0.1 mm移動, 2アーム同時プロービング, 容量測定時)
探针可测区域610W × 510D mm
可测基板尺寸厚度: 0.1〜3.2 mm
外形:50W × 50D〜610W × 510 mm
元件搭载范围:上测10 mm (含板厚), 下侧:0.1 mm
基板传送无自动传送规格
电源AC200 V ±10% (单相) 50/60 Hz, 3 kVA
尺寸・重量1443W × 1656H × 1185D mm, 1000 kg
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