产品中心

● 测量频率100kHz~300MHz
● 测量时间：最快0.5ms
● 基本精度±0.72%rdg.
● 测量方式：RF I-V法
● 紧凑主机仅机架一半大小、测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

● 测量频率：1MHz~600MHz
● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 测量方式：RF I-V法
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

● 测量频率：1MHz~1.3GHz
● 测量时间：最快0.5ms（模拟测量时间）
● 测量值偏差：0.07%（测量频率1GHz时的代表值）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 测量方式：RF I-V法
● 紧凑主机仅机架一半大小，测试头仅手掌大小
● 丰富的接触检查功能（DCR测量、Hi-Z筛选、波形判定）
● 使用分析功能在扫描测量频率、测量信号电平的同时进行测量

● 材料装载、压粉和测量等所有操作均可在手套箱内完成。
● 安全测量，无硫化氢气体泄漏和材料改变的风险
● 无需再装卸样品，大大缩短了工作时间。
● 同时测量压粉时的阻抗、厚度和压力。
● 精确计算材料导电率、离子导电率和体积密度。
● 高效，可在多种加压条件下对单一样品进行连续测量。

•在测量的同时实时显示数据图表
•HIOKI 日置 LCR 测试仪全系列可用
•加速电容式传感器、磁场传感器的研究开发