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电压偏置测试系统CN010

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半导体器件的直流偏置特性研究,适用于SiC、GaN、MLCC的偏压测试

● 丰富的选件,覆盖广泛测试需求的硬件系统
● 整体的性能评价和预先验证,为客户提供可靠准确的测试方案
● 友好的图表显示界面,即时的数据保存,提高开发效率


  • 系统构成
  • 软件界面-列表显示和频率特性

产品参数

功能偏置电压扫描测试, 交流电压扫描测试, 频率扫描测试
开短路补偿, 电源监视, LCR监视
序列测试
充放电延时, xlxs(xls)/png/setting文件保存
测试項目Z, Y, θ, X, G, B, Q, Rs, Rp, Ls, Lp, Cs, Cp, D
精度系数α
(与IM3570的基本精度相乘)
量程~100kHz100.1kHz~
1kΩ量程以下1.51.5
10kΩ量程以上1.5+0.2×fL
fL: 测试频率[kHz]
5+1×fH
fH: 测试频率[MHz]
通信端口USB, LAN, RS-232C
配件清单USB Key, U盘(软件、使用说明书), DC电压偏置单元(9268-10或特殊品), 电压偏置用电源(CN010-10, CN010-20), 连接线(电源 ‒ 偏置单元之间), USB电缆L1002, 使用说明书
支持OSWindows 10 (64bit), Windows 11

主机参数

型号名称电压范围频率范围
CN010-10直流电压偏置测试系统1.0 V~500 V (0.1V step)100 kHz~5MHz
(HIOKI IM3570)
CN010-11无配套电源
CN010-20-40.00 V~+40.00 V
(0.01 V step)
40 Hz~5MHz
(HIOKI IM3570)
CN010-21无配套电源
测试治具
  • 4端子探头L2000
    4端子探头L2000

    DC~8MHz,1m长

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  • 测试治具9262
    测试治具9262

    DC~8 MHz, 直接连接型

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  • SMD测试治具9263
    SMD测试治具9263

    直接连接型, DC~5 MHz 测试尺寸: 1mm~10.0mm

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  • SMD测试治具IM9100
    SMD测试治具IM9100

    直接连接型,底部有电极SMD用,DC~8MHz,可测量样品尺寸:0402~1005(JIS

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  • SMD测试治具IM9110
    SMD测试治具IM9110

    直接连接,2端子,DC〜1MHz,可测样品尺寸:0201(JIS)

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适用产品
  • LCR测试仪IM3536
    LCR测试仪IM3536

    测量频率DC,4 Hz〜8 MHz的LCR测试仪

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  • 阻抗分析仪IM3570
    阻抗分析仪IM3570

    1台仪器实现不同测量条件下的高速检查

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产品样本 使用说明书 通讯指令 产品外观图 在线培训视频 软件下载
编号
类别
型号
名称
备注
类型
大小
更新时间
点击
2080
系列/应用样本
涉及较多产品
半导体行业测量 解决方案
pdf
3 MB
2023-08-09
1938
单品样本
CN010
电压偏置测试系统CN010
pdf
2.11 MB
2023-07-03
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